日本TSS-5X-3红外线发射率测试仪，TSS-5X远红外线放射率测试器，远红外测试仪，本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种材料的表面发射率。TSS-5X-3远红外线发射率测试仪，TSS-5X-3远红外线放射率测试器，远红外测试仪早已经由材料科研单位、半导体产业等的单位采用。广泛用于红外材料测量。

北京华睿志达科技发展有限公司、北京华瑞森科技发展有限公司销售的：日本TSS-5X-3红外线发射率测试仪也称为TSS-5X红外线放射率测试器，远红外测试仪，本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种材料的表面发射率。

TSS-5X-3远红外线发射率测试仪，TSS-5X-3远红外线放射率测试器，远红外测试仪早已经由材料科研单位、半导体产业等的单位采用。 广泛用于红外材料测量。

日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪应用：

1、在机器的热设计中必须使用的零件的发射率测量；

2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率；

3、各种零件的加工／处理前后的发射率比较；

4、其他、从零件的放射率求取物体本身的发射率等；

5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。

日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪产品构成：

１．红外线照射源

藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在材料中集中照射。

２．红外线检验素子

从材料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。

注：比率是依据光学系的构造来决定。

３．发射率演算回路

从反射能量检验器的输出，演算试料的发射率。

注：材料的反射率和发射率的关系式如下：r εε＝１－r

４．放射率表示値的校正

用发射率标准片（ε＝０．０６与０．９４）做校准.

测量原理：利用恒温放射的远红外线发射源，将能量照射后计算所反射的能量。

测量波长：2-22μｍ

测量范围：0.00-1.00

额定精度：±0.01

测量面积：Φ15mm

测量距离：12mm（固定探头的脚柱部）

被测物温：10-40℃（室温）

输出：0-0.1V，0-1V（满载）

使用温度：10-45℃

使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）

使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz

外型尺寸：探头Φ51X137mm（0.5Kg）

主机：H170X W306ｘD230mm（5Kg）

配件：发射率标准片0.94、0.06各一片。

代理商： 北京华睿志达科技发展有限公司

Beijing Huaruizhida Technology Development Co.Ltd.,

北京华瑞森科技发展有限公司

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